概述

1、主要研发Pd合金材料，使其在探针电性能测试方面具有优异表现，开发出耐压力强、阻值低、寿命长，免沾锡的测试探针，使其在使用过程中对芯片测试起到更好的作用效果。 2、解决探针在测试过程中的沾锡问题，减少共晶现象。