概述

通过产品的实际图像同CAM资料对比的方式进行自动缺陷检测；尺寸 测量功能通过高倍率成像分析检测，包含二次元的功能，实现自动测量

需求详情

自动测量尺寸、识别不良缺陷分类统计；通过产品的实际图像同CAM资料对比的方式进行自动缺陷检测；尺寸 测量功能通过高倍率成像分析检测，包含二次元的功能，实现自动测量。 技术优点：1 .解析CAM设计资料；2,对待检品进行光学定位扫描成像，将实际成像进行图像预处理后与CAM 资料进行比对;3. 比对后通过算法自动识别出产品不良缺陷的类型并进行分类，可显示缺 陷实际图片用于确认，通过激光指示器进行缺陷位置指示并输出缺陷坐标 列表；4. 包含二次元测量功能，定位后可实现自动测量尺寸；5. 检测信息实时保存，便于后期追溯、统计和分析；