概述

冷热冲击试验设备适用于LED组件的物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品热胀冷缩产生的化学变化或物理伤害，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，用于测试产品的安全性能，可确认LED产品的品质。但是用于探究LED器件在不同温度下以及极端温度下的光学性能的仪器及检测方法尚未见。

需求详情

【核心需求】：寻找相关意向单位进行委托开发，进行LED光电检测系统的优化改进。【预期目标】：冷热冲击试验设备适用于LED组件的物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品热胀冷缩产生的化学变化或物理伤害，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，用于测试产品的安全性能，可确认LED产品的品质。但是用于探究LED器件在不同温度下以及极端温度下的光学性能的仪器及检测方法尚未见。【技术参数】：1）加热平台的温度范围为-15℃-150℃；2) 加热平台的表面温度是均匀的，且其表面温度不同区域之间的最高温差不超过1℃。

技术参数

1）加热平台的温度范围为-15℃-150℃；2) 加热平台的表面温度是均匀的，且其表面温度不同区域之间的最高温差不超过1℃。