概述

研发国产X射线TDI线阵探测器，实现高行频、高耐压及多级积分检测

需求详情

针对工业无损检测领域对高速高精度成像的需求，开发基于时间延迟积分（TDI）技术的X射线线阵探测器。通过多次曝光延迟积分提升信噪比与动态范围，重点突破像素尺寸、行频、耐压及TDI级数等关键技术指标，满足PCB、电池、芯片等流水线作业场景的高质量检测要求。

技术参数

像素尺寸​：≤48μm•​行频​：≥20kHz•​耐压能力​：≥160kW•​TDI级数​：≥128级•​动态范围​：＞16bit（典型值）•​积分模式​：支持多级可调延迟积分

项目预期

1.实现国产TDI探测器技术突破，替代进口产品；2.满足工业流水线高速高精度检测需求，提升成像质量；3.推动高端无损检测装备自主可控，降低产业链成本。