概述

卤素灯在半导体行业使用时通常并非是按恒定功率使用，而是不同功率交替循环使用，这种使用方式导致灯丝在使用过程中冷热交替，对灯丝的抗下垂能力要求极高。当前我司测试灯丝抗下垂性能主要是依靠点灯测试，点灯测试存在诸多弊端，如测试周期长、费用高等。我司期望同高校合作开发一款仿真技术，通过在仿真软件中输入相关工艺参数即可实现寿命仿真，观察失效模式。此方案一方面可以缩短产品开发周期，另一方面对产品的质量提供有利保障。

需求详情

卤素灯在半导体行业使用时通常并非是按恒定功率使用，而是不同功率交替循环使用，这种使用方式导致灯丝在使用过程中冷热交替，对灯丝的抗下垂能力要求极高。当前我司测试灯丝抗下垂性能主要是依靠点灯测试，点灯测试存在诸多弊端，如测试周期长、费用高等。我司期望同高校合作开发一款仿真技术，通过在仿真软件中输入相关工艺参数即可实现寿命仿真，观察失效模式。此方案一方面可以缩短产品开发周期，另一方面对产品的质量提供有利保障。