面向高算力系统的AI驱动多层陶瓷电容器用材料及应用关键技术
概述
多场耦合下MLCC可靠性验证与失效机理解析难题
需求详情
解决高压、高容、温度、电场多场耦合工况下,MLCC加速老化试验标准缺失、失效机理难以精准判定、可靠性数据无法闭环指导工艺优化的问题,建立完整的高端MLCC可靠性验证与优化体系。
征集中
金额:500万元-800万元