数据处理方法、装置、介质及电子设备

本申请提供一种数据处理方法、装置、介质及电子设备。所述数据处理方法包括：获取待测设备于预设参考平面(时间戳测量平面)下的进入报文时间戳采样点的PTP时间与真实标准时间的时间差和进出路径时间和；对所述PTP时间与所述真实标准时间的时间差、所述进出路径时间和和预设平均链路延迟进行处理，以获取标准参考平面下的出口延迟和入口延迟；基于所述预设平均链路延迟，对所述出口延迟和所述入口延迟相关联的测试平均链路延迟进行验证，以获取验证结果。所述数据处理方法能够不依赖于芯片设计内部计算，快速有效确定标准参考平面。并且通过进一步对测试平均链路延迟和预设平均链路延迟进行验证，能够进一步验证确定的标准参考平面的正确性。