测试装置及测试设备

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测试装置及测试设备
申请号:CN202410731305
申请日期:2024-06-06
公开号:CN119104753A
公开日期:2024-12-10
类型:发明专利
摘要
本发明揭示一种测试装置,包括具有多个弹力金属件且适于电性连接一待测物的座体,以及设于该座体上且适于电性连接各该弹力金属件与一标准元件的导电弹性片,其中,该导电弹性片作为该标准元件及各该弹力金属件之间的电性连接,可避免该标准元件及各该弹力金属件间直接接触所致的磨损问题,再者,该标准元件无须焊接,可直接设置于该导电弹性件上,更能避免因焊接而产生气泡或裂痕的问题;另外,本发明的测试设备可通过前述的测试装置,与该待测物进行封装测试,以检测该待测物的功能是否正常。
技术关键词
金属件 弹性片 测试设备 元件 半导体封装件 测试座 导电粒子 基座 导电体 垫片 芯片 基板 座体 气泡 存储器 逻辑