一种基于非线性优化的光耦传感器自动校准方法

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一种基于非线性优化的光耦传感器自动校准方法
申请号:CN202410742853
申请日期:2024-06-11
公开号:CN118310571B
公开日期:2024-08-30
类型:发明专利
摘要
本发明涉及光耦传感器校准技术领域,具体公开了一种基于非线性优化的光耦传感器自动校准方法,包括以下步骤:获取M台待校准设备,分别采集光耦输出值的大数据,获得样本集;对样本集采用异常值剔除算法进行处理;得到模型优化信号;基于模型优化信号,计算内点到非线性模型的总误差;对内点到非线性模型的总误差进行优化;迭代计算得到可以达到最小总误差的最优模型参数,基于最优模型参数获得非线性校准模型,即得到其他场景下的校准值,通过利用多场景大数据采集,并进行模型优化,构建并得到精度较高的非线性校准模型,可以快速高效的完成光耦输出值的统一校准;提高校准效率,同时,参考场景可以桥接其他场景,实现光输出值统一化。
技术关键词
非线性 剔除算法 参数 样本 校准设备 误差向量 信号 光耦传感器 雅可比矩阵 标记 校准技术 误差函数 多场景 索引 大数据 鲁棒性
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