一种基于光谱曲线分类的铝合金氧化膜粉化缺陷检测方法

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一种基于光谱曲线分类的铝合金氧化膜粉化缺陷检测方法
申请号:CN202410744471
申请日期:2024-06-11
公开号:CN118608852A
公开日期:2024-09-06
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于光谱曲线分类的铝合金氧化膜粉化缺陷检测方法,包括以下步骤:控制工业相机移动至被测工件表面正上方,开启卤素光源;控制相机采集被测工件的高光谱数据,包括2D图像I1与波段信息;对I1进行高斯金字塔图像下采样生成新图像I2;将I2划分为多个图像块;对每个图像块,获取图像块中每个像素点的光谱曲线并聚类为2类,以包含曲线数量最大的类的平均光谱曲线作为当前图像块特征曲线;对特征曲线进行SG卷积平滑去除噪点;建立1D‑CNN神经网络模型,对特征曲线分类训练,使其判断当前图像块是否有粉化缺陷;可视化标注缺陷位置。本发明可实现铝合金工件表面氧化膜是否发生粉化缺陷的自动检测,提供了一种基于光谱曲线分类的铝合金氧化膜粉化缺陷自动化检测的新途径。
技术关键词
铝合金氧化膜 缺陷检测方法 曲线 图像块特征 高斯金字塔 工业相机 神经网络模型 近红外高光谱成像 初始聚类中心 多项式 像素点 缺陷检测装置 铝合金工件 表面氧化膜 卤素 定义特征
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