光学热点检测方法、电子设备及计算机可读存储介质
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光学热点检测方法、电子设备及计算机可读存储介质
申请号:
CN202410759598
申请日期:
2024-06-12
公开号:
CN118736281A
公开日期:
2024-10-01
类型:
发明专利
摘要
本申请公开了一种光学热点检测方法、电子设备及计算机可读存储介质。该光学热点检测方法包括:将电路版图划分成多个子块,并获取子块的数量;基于子块的数量对光学热点检测模型进行配置;对配置后的光学热点检测模型进行训练,利用训练好的光学热点检测模型对子块进行光学热点检测。通过上述方式,本申请的光学热点检测方法根据电路版图的规模对光学热点检测模型进行配置,不仅可以减少光学热点检测模型的训练和推断中的人工介入,还可以提高光学热点检测方法的检测效率和检测效果。
技术关键词
热点检测方法
多边形
残差神经网络
版图
可读存储介质
电子设备
随机梯度下降
结点
颜色
网络深度
电路
存储器
程序
计算机
图像
处理器
图片
模块
指令