缺陷检测模型训练和缺陷检测方法及相关设备

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缺陷检测模型训练和缺陷检测方法及相关设备
申请号:CN202410771073
申请日期:2024-06-14
公开号:CN118608895A
公开日期:2024-09-06
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种缺陷检测模型训练和缺陷检测方法及其相关设备,该方法包括:获取目标缺陷样本数据集;目标缺陷样本数据集中包含的目标缺陷图像的缺陷特征,不同于第一缺陷检测任务数据集中的第一缺陷样本图像的缺陷特征;第一缺陷检测任务数据集,为用于训练得到执行缺陷检测任务的第一缺陷检测模型的缺陷样本数据集;根据预设的迭代训练轮次,基于所述第一缺陷检测任务数据集和所述目标缺陷样本数据集,构造多个包含不同缺陷样本数据的第二缺陷检测任务数据集;基于所述多个不同的第二缺陷检测任务数据集,按照预定的训练方式训练基于所述第一缺陷检测模型的模型参数构建的缺陷检测模型,以得到用于执行所述缺陷检测任务的第二缺陷检测模型。
技术关键词
样本 数据 检测模型训练方法 缺陷类别 图像 缺陷检测方法 浅层特征提取 参数 缺陷检测装置 标签 比率 可读存储介质 特征提取器 存储计算机程序 分类器 计算机程序产品 处理器 存储器 模块