用于知识图谱的正则路径查询的基准测试方法及装置

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用于知识图谱的正则路径查询的基准测试方法及装置
申请号:CN202410774889
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118797114A
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本公开提供用于知识图谱的正则路径查询的基准测试方法及装置。用于知识图谱的正则路径查询的基准测试方法包括:通过数据生成器基于目标三元组存储系统创建模拟真实世界的图结构数据;通过基准测试查询集对图结构数据进行数据查询,得到查询结果,其中,基准测试查询集覆盖正则路径查询中的路径遍历模式、复杂性级别和操作符的各种组合;基于查询结果对目标三元组存储系统进行评估。本公开的基准测试查询集覆盖正则路径查询中的路径遍历模式、复杂性级别和操作符的各种组合,解决了RDF系统中的RPQ的独特需求,可以全面评估RPQ算法的效率和性能,从而可以揭示当前RPQ算法中的缺陷以及未来优化的方向。
技术关键词
基准测试方法 模拟真实世界 数据生成器 三元组 图谱 基准测试装置 存储系统 评估系统 数据查询模块 索引策略 平台无关 关系 编辑 模式 文章 内存 算法 网络