光热RT-LAMP芯片及其制作与检测方法

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光热RT-LAMP芯片及其制作与检测方法
申请号:CN202410780470
申请日期:2024-06-18
公开号:CN118904409B
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
光热RT‑LAMP芯片及其制作与检测方法,涉及核酸检测技术领域。为解决现有技术中,现有的集中诊断系统具有局限性,并需要漫长的检测时间的技术问题,本发明提供的技术方案为:光热RT‑LAMP芯片,所述芯片包括:构成芯片的上层封闭结构的顶部盖板和聚丙烯双面胶膜;用于样品加样和流体导向的加样槽、导流层和过滤层;用于分离杂质和固定目标分子的聚醚砜滤膜及Fusion5滤纸;用于辅助进行样品分析的石蜡颗粒;用于承载反应试剂和进行光热RT‑LAMP反应的反应腔;用于吸收反应液的吸收垫;构成芯片的底层支撑和光热反应基座的底部盖板、PDMS薄膜、金薄膜和玻璃基板。可以应用于疾病诊断工作中,特别是在资源有限的环境中进行早期、快速和准确的疾病诊断。
技术关键词
芯片制作方法 光热 PDMS薄膜 双面胶膜 聚醚砜滤膜 芯片检测方法 加样槽 玻璃基板 腔模具 滤纸 聚丙烯 核酸检测技术 封闭结构 石蜡 诊断系统 导流 基座 分子