表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子终端

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表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子终端
申请号:CN202410790646
申请日期:2024-06-19
公开号:CN118365643B
公开日期:2024-10-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子终端,缺陷检测方法包括:获取所述储能产品箱体表面的符合预设要求的初始图像,将所述初始图像切割成若干图像块;创建yolov8模型,利用yolov8模型对每个图像块进行处理,并得到每个图像块对应的若干特征图和若干缺陷候选框,以及每个缺陷候选框的信息;使用非极大值抑制算法对所述若干缺陷候选框进行筛选,从而得到若干缺陷检测框,将每个缺陷检测框均标记到所述初始图像中。本发明大大提高了储能产品箱体表面缺陷检测的效率和准确性。
技术关键词
储能产品 箱体表面 图像块 表面缺陷检测方法 抑制算法 电子终端 网络结构 坐标 拉普拉斯 缺陷检测装置 模块 标签 标记 程序 指令 存储器 处理器