一种缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法、设备及介质

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一种缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法、设备及介质
申请号:CN202410823941
申请日期:2024-06-25
公开号:CN118521870A
公开日期:2024-08-20
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法、设备及介质,所属缺陷检测技术领域,包括:获取关于PCB电路板包含缺陷信息的图像样本集,并对所述图像样本集进行扩充得到扩充图像样本集;在YOLOv8n的Backbone网络中嵌入SEAttention注意力机制,并将所述YOLOv8n的Neck网络和所述Backbone网络中部分C2f模块替换为C3模块,生成改进YOLOv8n的缺陷检测模型;将所述扩充图像样本集作为所述缺陷检测模型的输入,采用Wise‑IoU损失函数进行训练,得到目标缺陷检测模型。解决了针对PCB电路板表面对于小尺寸缺陷的检测效果不好的问题。
技术关键词
检测模型构建方法 缺陷检测方法 样本 PCB电路板 注意力机制 网络 缺陷类别 模块 缺陷检测技术 处理器 图像分割 马刺 可读存储介质 小尺寸 存储器 对比度 算法 电子设备