芯片测试设备及方法

本公开实施例涉及芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试设备及方法；芯片测试设备包括运料装置、控制器以及相互独立的多个测试装置，多个测试装置并排设置在运料装置两侧；控制器用于根据配置的测试项目顺序，控制运料装置将至少一个待测芯片依次运送至对应的各测试装置；各测试装置用于依次对待测芯片执行对应的测试项目。本公开实施例无需对设备硬件进行改造即可按照自定义的测试项目顺序对待测芯片进行测试，节省了测试项目顺序发生变化时的设备硬件改造成本和时间成本，提高了测试效率。