高速serdes集成ecpu的芯片测试ATE固件加载方法及系统

本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种高速serdes集成ecpu的芯片测试ATE固件加载方法及系统，针对ecpu加载固件时发出的固件读取指令，基于固件读取指令生成写有固件编码信息的的ATE测试向量，所述ecpu集成在待测试芯片高速serdes中，所述固定读取指令包括地址信息、时钟信息及片选信号时序信息；利用ATE测试向量模拟外部内存对ecpu响应，并按时序约束将固件相关数据写入ecpu，所述时序约束包括依据片选信号时序信息设置的等待时钟周期数和固件加载时间段。本发明利用ATE替代外置memory完成ecpu固件加载，提高芯片调试效率，降低芯片测试成本。