波形参数获取方法以及相关装置

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波形参数获取方法以及相关装置
申请号:CN202410863710
申请日期:2024-06-29
公开号:CN118837624A
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种波形参数获取方法以及相关装置,涉及射频技术领域,波形参数获取方法包括:对第一波形信号进行采样,得到n个第一采样点,并至少根据n个第一采样点拟合得到第一波形;对第二波形信号进行采样,得到n个第二采样点,并至少根据n个第二采样点拟合得到第二波形;至少根据第一波形以及第二波形,获取波形参数;其中,波形参数至少包括第一波形信号的特定波形参数、第二波形信号的特定波形参数以及第一波形信号与第二波形信号之间的相关波形参数。本申请可获取两个波形信号各自的特定波形参数以及二者之间的相关波形参数。
技术关键词
波形 参数获取方法 采样点 参数获取装置 信号 周期 射频电源系统 正弦模型 可读存储介质 计算机 正弦波 控制单元 处理器 电流 电压