一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法
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一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法
申请号:
CN202410865082
申请日期:
2024-07-01
公开号:
CN118392324B
公开日期:
2024-10-15
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法,涉及红外系统辐射测量领域,该方法包括:步骤1,背景板和黑体图像采集策略:待黑体温度稳定后,变换衰减片,依次变换积分时间档位,采集黑体图像;黑体图像采集完后,切至背景板,采集背景图像;步骤2,建立背景扣除的红外辐射定标模型;步骤3,根据步骤2建立的背景扣除的红外辐射定标模型,执行背景扣除的红外辐射测量策略。根据本发明技术方案,通过扣除背景的方法,降低了内部杂散辐射对目标灰度的影响,使得测量精度更高。
技术关键词
背景板
辐射测量方法
定标模型
镜头盖
滤光轮
衰减片
定标算法
数学模型
误差
制冷型红外探测器
温度稳定
板系统
策略
图像系统
档位
总量
发射率
图像处理