孔环缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

本申请涉及一种孔环缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，应用在电路板缺陷检测技术领域，包括获取检测区域图像，检测区域图像包括预设的强检区域图像或指定的颗粒图像，强检区域图像或颗粒图像包括待检测的孔和/或环；识别待检测的孔和/或环的轮廓，并根据待检测的孔和/或环的轮廓截取待检测的孔和/或环对应的感兴趣图像；查找待检测的孔和/或环对应的母图轮廓，在感兴趣图像中截取与母图轮廓对应的目标区域图像；通过图像识别方法判断目标区域图像的类型，目标区域图像的类型包括孔和环；根据孔和环的判断标准判断待检测的孔和/或环是否存在缺陷，并进行异常标记。本申请具有的技术效果是：适用于孔和环的缺陷检测，提高电路板缺陷检测效率。