摘要
存储器管理方法及存储器控制器。存储器管理方法包括:根据存储装置的装置临界温度,计算总功率阈值;分别向多个芯片使能引脚的多个芯片执行擦除操作、写入操作及读取操作,以测量存储装置的可复写式非易失性存储器模块的对应每个芯片使能引脚的单一芯片的擦除功率、写入功率及读取功率;根据擦除功率、写入功率、读取功率,确定并执行多个测试计划,并且获取在执行多个测试计划时的存储装置的多个总功率;根据多个总功率及总功率阈值,确定多个测试计划中的多个候选测试计划;以及从多个候选测试计划中选择多个目标测试计划,排序多个目标测试计划,以依序向多个芯片执行对应多个目标测试计划的多个测试操作。本申请有利于提高测试准确性。