一种用于检测QFN/DFN封装器件整条打标位置偏差的装置

本发明提供一种用于检测QFN/DFN封装器件整条打标位置偏差的装置，其包括可放置框架的底座，检测部件，以及给框架和检测部件提供定位作用的定位机构，检测部件为透明材质制成的板状结构，检测部件上设置有形状、大小和位置与框架上的芯片对应的检测区域，检测时，定位机构使框架上的芯片与检测区域对应，通过观察检测区域内的对应芯片标识的位置，实现打标位置偏差检测；通过检测部件的设置，在不切割框架的情况下，直接观察并检测整条框架上每颗芯片的打标位置，从而大大减少了检测流程和时间，提高了检测效率。