硅材表面应变快速无损非接触测量装置及测量方法

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硅材表面应变快速无损非接触测量装置及测量方法
申请号:CN202410898532
申请日期:2024-07-05
公开号:CN118913122B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种硅材表面应变快速无损非接触测量装置及测量方法,包括:飞秒激光器,用于产生飞秒激光脉冲;时域拉伸组件,设置在飞秒激光器的出射光路上;光信号放大组件,设置在时域拉伸组件的出射光路上;分束器,位于光信号放大组件的出射光路上,用于将所述飞秒激光脉冲分为具有特定功率比的测试光束与参考光束;空间分散组件,设置在分束器测试光束的出射光路上;显微物镜,设置于空间分散组件的出射光路上;高速光电探测器,位于分束器参考光束的出射光路上;高速示波器,与所述高速光电探测器电连接;数据处理装置,与高速示波器电连接。本发明用于解决现有技术对散斑的强依赖和检测帧数低的问题。
技术关键词
高速光电探测器 飞秒激光器 分束器 数据处理装置 光束 测量方法 光信号 示波器 准直器 光功率计 透镜组件 光脉冲信号 衍射光栅 物镜 像素点 均值算法 轮廓区域 加权欧氏距离