一种芯片缺陷检测方法及装置

本申请提供一种芯片缺陷检测方法及装置，该方法包括：获取超声图像并提取底层、中层和高层特征；融合各层特征的静态与动态上下文信息；通过上采样和合并处理获得第一、第二、第三和第四特征图；对这些特征图进行检测并合并结果，实现芯片内部缺陷的高效、自动、准确检测。利用神经网络处理超声图像。