CMOS光斑探测相机图像非均匀性校正的改进方法
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CMOS光斑探测相机图像非均匀性校正的改进方法
申请号:
CN202410912014
申请日期:
2024-07-08
公开号:
CN118799233A
公开日期:
2024-10-18
类型:
发明专利
摘要
针对CMOS光斑探测相机图像非均匀性问题,本发明公开了一种CMOS光斑探测相机图像非均匀性校正的改进方法,为针对基于标定类的非均匀性校正方案,包括:S1探测器图像采集进行灰度值计算以及响应输出;S2计算多点标定增益系数和校正偏置系数;S3通过非均匀性大小计算像元响应的非均匀性情况。基于CMOS原始图像受非均匀性的影响严重,应用本发明方法在过后期图像处理和校正。
技术关键词
图像非均匀性校正
探测相机
非均匀性校正方法
探测器
积分球
光斑
阵列
图像处理
光照
表达式
两点
矫正
代表
算法
定义
强度