基于人工智能的LED芯片缺陷检测方法及系统

本申请涉及芯片检测技术领域，提供了基于人工智能的LED芯片缺陷检测方法及系统。其中，该方法包括：针对检测基板上的各个LED芯片检测位，基于预设的温度控制曲线控制LED芯片检测位对应的温度调节装置调节LED芯片检测位上的被测LED芯片的温度，在温度调节装置调节被测LED芯片的温度的过程中，通过LED芯片检测位对应的摄像装置对被测LED芯片进行拍摄，得到被测LED芯片在加热过程中的目标视频；针对检测基板上的各个被测LED芯片，将被测LED芯片对应的目标视频输入预设的稳定系数预测模型，得到被测LED芯片的稳定系数，并基于稳定系数判断被测LED芯片是否存在缺陷。该方法实现了对LED芯片的发光稳定性进行检测。