使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法

本申请公开了使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，涉及芯片测试领域，包括独立电源、PC端、高频信号发生器、双路测试板及高带宽示波器；所述PC端通过预设的测试程序向高频信号发生器、双路测试板及高带宽示波器发送测试命令，进行双路高速运算放大器芯片测试；所述双路测试板包括MCU、驱动电路和被测芯片环路，由于高速运放的带宽比较高、时间比较短，所以需要高精度高带宽的仪器来测试，外接设备测试同样可以不受限于测试机的测试条件，可以独立实现高精度测试。