使用独立设备进行高速全差分运算放大器芯片测试的方法

本申请公开了使用独立设备进行高速全差分运算放大器芯片测试的方法，涉及芯片测试领域，包括独立电源、PC端、高频信号发生器、全差分测试板及高带宽示波器；所述PC端通过预设的测试程序向高频信号发生器、全差分测试板及高带宽示波器发送测试命令，进行高速全差分运算放大器芯片测试；通过独立电源的一个单通道来控制不同的继电器，可以让一块全差分测试板针对不同的电参数进行切换测试，大大减小了成本。