一种多向激发表面等离子体共振全息显微术的降采样方法

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一种多向激发表面等离子体共振全息显微术的降采样方法
申请号:CN202410933173
申请日期:2024-07-11
公开号:CN118799173A
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种多向激发表面等离子体共振全息显微术的降采样方法,该方法利用压缩感知理论去除了原始成像方案中数百张全息图的冗余。通过改变多向激发表面等离子体共振强度与相位图像的融合方式,结合正则项设计图像重构模型,利用算法求解凸优化问题,实现高分辨率表面等离子体共振图像的精确重构。该方法在确保重构图像准确性的同时抑制背景噪声,并消除″拖尾″融合形成的晕圈,将系统采样数有效降低数十倍,提高了系统的时间分辨率。
技术关键词
激发表面等离子体 正则化参数 重构模型 采样方法 掩膜 数值 强度 全息显微术 抑制背景噪声 压缩感知理论 图像分割算法 凸优化算法 全息图 表达式 像素点 序列