一种轨对轨全差分运放参数测试电路及测试方法

本发明涉及一种轨对轨全差分运放参数测试电路及测试方法，属于芯片测试技术领域。本发明利用全差分运放环路工作原理，通过开关切换闭环放大倍数电阻，根据闭环原理公式，利用系数变化计算出轨对轨全差分运放的失调电压，失调电流，测试准确度和闭环环路的匹配电阻阻值相关，保证闭环正负对称的电阻值相同，可以显著减少测试电路本身产生的测试偏差从而测试出准确的全差分运放失调电压和失调电流，进一步的还可以利用本发明测试运放偏置电流等参数。本发明方法简单实用，适用性广泛，易操作，准确度高等优点，可以通过变更环路电阻数值更改闭环放大倍数以适用不同量级的失调电压，失调电流以及偏置电流的测试。