一种WAT测试系统

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一种WAT测试系统
申请号:CN202410942834
申请日期:2024-07-15
公开号:CN118688612B
公开日期:2024-12-20
类型:发明专利
摘要
本发明属于测试系统技术领域,尤其涉及一种WAT测试系统。本发明提供一种工作效率高的WAT测试系统的电路硬件基础。本发明包括主控电路、全桥驱动电路、全桥LC振荡电路、耐压和电阻检测降压电路、继电器驱动电路和测试电路,其特征在于主控电路的控制信号输出端口分别与全桥驱动电路的控制信号输入端口、耐压和电阻检测降压电路的控制信号输入端口、继电器驱动电路的控制信号输入端口相连,继电器驱动电路的控制信号输出端口与测试电路的控制信号输入端口相连,全桥驱动电路的控制信号输出端口与全桥LC振荡电路的控制信号输入端口相连,全桥LC振荡电路的振荡信号输出端口与测试电路的振荡信号输入端口相连。
技术关键词
WAT测试系统 继电器驱动电路 全桥驱动电路 测试电路 主控电路 振荡电路 电阻 降压电路 NPN三极管 端口 输入端 耐压 信号 输出端 芯片 阴极 阳极 二极管