一种夹层结构激光超声导波成像检测及脱粘缺陷面积测量方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202410951003
申请日期:2024-07-16
公开号:CN118914088B
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
一种夹层结构激光超声导波成像检测及脱粘缺陷面积测量方法、电子设备及存储介质,属于无损检测技术领域。为解决现有技术中难以从复杂的超声导波信号中提取缺陷信息,进而无法得到可靠性较高的成像结果的问题;本发明设计基于激光超声检测方法,通过连续小波变换,确定缺陷对信号时频能量分布的影响;采用Mallat算法得到感兴趣区域的细节信号;计算栅格扫查获得的细节信号和参考信号的皮尔逊相关系数;将皮尔逊相关系数进行灰度映射得到待检测区域的完整图像;使用Otsu方法对所得检测图像进行二值化,并对二值化图像进行形态学处理,以此实现缺陷面积计算,从而实现夹层结构内部缺陷的非耦合定量评价。
技术关键词
Mallat算法
皮尔逊相关系数
面积测量方法
信号
夹层结构
连续小波变换
激光超声检测方法
干涉仪
多普勒
超声导波
频率
表达式
典型
成像
无损检测技术
图像
电子设备
工件