一种量子点粒径测量方法、系统、设备及存储介质
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一种量子点粒径测量方法、系统、设备及存储介质
申请号:
CN202410951530
申请日期:
2024-07-16
公开号:
CN118799379A
公开日期:
2024-10-18
类型:
发明专利
摘要
本发明公开一种量子点粒径测量方法、系统、设备及存储介质,涉及量子点粒径测量技术领域,该方法包括:获取待测物体的量子点颗粒图像;对量子点颗粒图像进行膨胀与腐蚀操作,使量子点颗粒图像显现出量子点颗粒区域;采用标记的分水岭算法分割量子点颗粒图像上相邻的量子点颗粒区域;提取分割后量子点颗粒图像中的量子点轮廓;对提取的量子点轮廓进行分析,得到量子点的数量和颗粒尺寸;该方法显著提高了数据处理速度,规避了人工测量的速度缺陷,避免了人为误差。
技术关键词
量子点
粒径测量方法
图像
分水岭算法
多边形
GrabCut算法
待测物体
轮廓
顶点
标记
像素点
可读存储介质
背景噪声
模块
处理器
内核
计算机设备
直方图
尺寸