一种基于SC-YOLOv8神经网络模型的导光板缺陷检测方法

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一种基于SC-YOLOv8神经网络模型的导光板缺陷检测方法
申请号:CN202410966589
申请日期:2024-07-18
公开号:CN118840349A
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于SC‑YOLOv8神经网络模型的导光板缺陷检测方法,该方法包括以下步骤:基于YOLOv8神经网络模型构建SC‑YOLOv8神经网络模型,SC‑YOLOv8神经网络模型包括依次连接的主干网络单元、颈部单元和头部单元,主干网络单元包括五个CBL模块和四个CN‑C2f1模块,头部单元包括三个检测头模块,主干网络单元和颈部单元之间设有三个SA注意力模块,位于主干网络单元末端的三个CN‑C2f1模块分别通过一个SA注意力模块连接颈部单元;将预先收集的导光板缺陷数据集代入SC‑YOLOv8神经网络模型对其进行训练,训练完毕后,将采集的导光板图像输入至训练好的SC‑YOLOv8神经网络模型进行缺陷检测。本发明对于导光板的白点缺陷、亮线缺陷、暗线缺陷和区域缺陷,实现较高的检测精度,并具有较高的检测效率。
技术关键词
网络单元 模块 注意力 神经网络模型构建 导光板 数据 分支 通道 检测头 全局平均池化 线性 上采样 图像 精度