烤盘形变测试方法、装置及计算机可读存储介质

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烤盘形变测试方法、装置及计算机可读存储介质
申请号:CN202410975482
申请日期:2024-07-19
公开号:CN119043124A
公开日期:2024-11-29
类型:发明专利
摘要
本申请涉及测试领域,特别是涉及一种烤盘形变测试方法、装置及计算机可读存储介质,所述方法包括:控制所述升降组件以控制各所述连接套杆与所述待测烤盘抵触;控制所述图像采集装置加热前后分别采集包括各所述连接套杆的第一图像和第二图像;识别所述第一图像中各所述连接套杆的第一数值和所述第二图像中各所述连接套杆的第二数值;基于各所述第一数值和各所述第二数值确定所述待测烤盘的形变系数。本申请实现烤盘形变的自动测试。相比于现有技术,烤盘形变测试的准确度更高,节约了人工成本。
技术关键词
图像识别算法 图像采集装置 升降组件 数值 测试组件 烤盘 图像分割 加热箱体 测试方法 可读存储介质 伸缩电机 刻度 底板 支撑杆 磁性底座 计算机 处理器 直线