一种基于气泡流的歧管微通道散热器温度测试方法

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一种基于气泡流的歧管微通道散热器温度测试方法
申请号:CN202410988160
申请日期:2024-07-23
公开号:CN118776698A
公开日期:2024-10-15
类型:发明专利
摘要
一种基于气泡流的歧管微通道散热器温度测试方法:在歧管微通道芯片加热实验中,当温度达到冷却介质的沸点时歧管微通道出现气泡形成气泡流。气泡的体积随着歧管微通道内温度的变化而变化;结合显微镜和高速相机拍摄通道内不同位置气泡图像,计算气泡体积相对变化,基于气体状态方程,计算出微通道不同位置由于气泡的产生而出现的热阻,再根据芯片的热功耗算得歧管微通道温度。本发明测量方便、精度高、对歧管微通道结构无破坏。
技术关键词
温度测试方法 微通道散热器 歧管 气体状态方程 加热芯片 热阻 微通道结构 显微镜 介质 导热硅脂 透光材料 无破坏 陶瓷 微气泡 相机 功耗