一种基于气泡流的歧管微通道散热器温度测试方法
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一种基于气泡流的歧管微通道散热器温度测试方法
申请号:
CN202410988160
申请日期:
2024-07-23
公开号:
CN118776698A
公开日期:
2024-10-15
类型:
发明专利
摘要
一种基于气泡流的歧管微通道散热器温度测试方法:在歧管微通道芯片加热实验中,当温度达到冷却介质的沸点时歧管微通道出现气泡形成气泡流。气泡的体积随着歧管微通道内温度的变化而变化;结合显微镜和高速相机拍摄通道内不同位置气泡图像,计算气泡体积相对变化,基于气体状态方程,计算出微通道不同位置由于气泡的产生而出现的热阻,再根据芯片的热功耗算得歧管微通道温度。本发明测量方便、精度高、对歧管微通道结构无破坏。
技术关键词
温度测试方法
微通道散热器
歧管
气体状态方程
加热芯片
热阻
微通道结构
显微镜
介质
导热硅脂
透光材料
无破坏
陶瓷
微气泡
相机
功耗