摘要
本发明公开了一种EDA中分层式设计规则检查系统与方法，用于集成电路设计的高效和精确设计规则检查。该系统通过结合初级违规检测、卷积神经网络（CNN）违规分类和高级GPU并行算法的精准分析，形成了一个多层次的检查流程。该方法首先使用基于决策树的初级违规检测模型快速筛选潜在的设计规则违规，然后通过CNN违规分类器对违规类型进行详细分类，后端设计者查看该违规类型是否清晰明了，如若不够清晰，最后利用高级GPU并行算法对违规进行精细分析，确保检查结果的准确性。本发明的系统和方法显著提升了设计规则检查的效率和准确性，通过层次化检查缩短了设计周期，具有重要的工业应用价值和市场潜力。
