一种比对测试方法、装置、电子设备及存储介质

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一种比对测试方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411006485
申请日期:2024-07-25
公开号:CN118965018A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种比对测试方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:根据图纸命名映射关系,确定待比对组态图和目标CLD图,待比对组态图是所有组态图中的任意一幅,目标CLD图是需要与待比对组态图进行一致性比对的CLD图;对待比对组态图和目标CLD图进行归一化处理,得到待比对组态图对应的组态树和目标CLD图对应的CLD树;根据递归算法对组态树和所述CLD树进行对比,得到待比对组态图的比对测试结果,能够利用计算机技术进行自动批量的比对测试,解决了现有核电厂中每个机组都要完整的把所有图纸描画一遍进行验证,基线测试耗时长,不仅工作量大同时还考验测试人员的耐心和读图能力,极易引入人因失误的问题。
技术关键词
组态 测试方法 递归算法 树形结构 标识 存储计算机程序 图纸 电子设备 计算机存储介质 关系 节点 存储器 处理器 颜色 工作量 基线 机组 批量
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