一种驱动芯片故障识别功能的测试系统及方法

本发明公开了一种驱动芯片故障识别功能的测试系统及方法，涉及芯片故障检测技术领域，所述测试系统的驱动芯片的所有输出引脚与负载芯片的一个输入引脚连接，控制装置分别与驱动芯片和负载芯片连接，且被配置为根据不同的测试工况设置驱动芯片和负载芯片的各个输入引脚，采集驱动芯片和负载芯片反馈引脚的电压，并判断驱动芯片和负载芯片反馈引脚的电压是否为对应的测试工况的预设电压，根据判断结果确定所述驱动芯片对应的测试工况的故障识别功能是否正常。本发明的测试系统对驱动芯片的故障识别功能进行测试，可根据测试结果确定驱动芯片故障识别的准确性，防止芯片误报出现错误的控制继电器导致整车功能异常，保证了芯片的可靠性。