内存参数优化调试方法

本发明公开了内存参数优化调试方法，该调试方法包括如下步骤：S1：软件初始化DDR各项参数；S2：设置ODT的初始值为0，ODT为DDR片上终端电阻；S3：连续写入DDR数据，triger CPU控制器去采样一根信号线的电压值，在开始写入数据后触发数据采样，采样转换为数字信号存放在内存中。本发明中硬件支持采样，配置硬件的寄存器，让采样结构存入固定寄存器，软件根据参考时钟，读取采样结果，软件根据特定的算法，迭代出一个眼图；根据迭代出的眼图，能获取上下最大值，左右最大值，如果上下最值不能满足要求，继续调整参数进行下一轮的采样，直至采样结束，能够自动检测到信号，调整参数，让信号能容忍更大的环境变化；不用手动调整，提高工作效率。