一种基于毫米波的微米级高精度绝对测距系统及方法
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一种基于毫米波的微米级高精度绝对测距系统及方法
申请号:
CN202411100243
申请日期:
2024-08-12
公开号:
CN119001694B
公开日期:
2025-10-24
类型:
发明专利
摘要
本发明提出了一种基于毫米波的微米级高精度绝对测距系统及方法,包括:相位自适应稳相系统PASS的前期准备和参数设置;利用激光跟踪仪测试待测自由空间初始长度;对PASS频综设置扫频输出,并分别测量在含有或不含自由空间条件下各频点对应相位;通过扫频加点频高精度绝对测距算法计算自由空间绝对距离。本发明能够突破PASS相对测距局限,实现动态测量自由空间长度的目标,并且测量精度达到5um,从而很好地解决PASS动态测距范围受限的问题,并提高了PASS测量精度。
技术关键词
激光跟踪仪
混频器
测距方法
测距系统
发射天线
子系统
位移控制器
射频
信号
数字相关器
频率
低噪放大器
上位机软件
测距算法
耦合器
波长
衰减器
平台