配置数据检测方法、配置数据检测电路、芯片及电子设备

本申请涉及集成电路技术领域，特别是涉及一种配置数据检测方法、配置数据检测电路、芯片及电子设备，对存储在所述存储器中的配置数据进行错误纠正码校验，得到至少一个出错数据帧；当所述出错数据帧存在SEU错误时，确定所述出错数据帧的SEU错误的错误等级；根据所述出错数据帧以及所述错误等级生成SEU错误数据；将所述SEU错误数据发送至控制模块，以使所述控制模块根据所述错误等级对所述出错数据帧进行处理；通过上述方式，检测出SEU错误时，先确定出错数据帧的SEU错误的错误等级，根据错误等级进行处理，减少检测及纠错时间，有利于降低系统应用正常运行的被占用时间，有利于提高系统的工作效率。