半导体封装结构及其形成方法
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半导体封装结构及其形成方法
申请号:
CN202411123156
申请日期:
2024-08-15
公开号:
CN119110597A
公开日期:
2024-12-10
类型:
发明专利
摘要
本公开的各个实施例针对包括位于基底结构上面的第一集成电路(IC)芯片的半导体封装结构。电IC芯片位于基底结构上面,并且设置在第一IC芯片周围。电IC芯片电耦合至第一IC芯片。光子IC芯片位于基底结构上面,并且电耦合至电IC芯片。光子IC芯片配置为接收输入光信号。光子IC芯片与电IC芯片相邻。本申请的实施例还涉及半导体封装结构及其形成方法。
技术关键词
光子集成电路芯片
半导体封装结构
基底结构
存储器集成电路
中介层
集成电路芯片配置
IC芯片
电耦合
光信号
光电检测器
电信号
光纤结构
光学耦合
图形处理单元
横向间隔开
驱动器电路
放大器电路