一种引线框架质量检测方法、装置及设备

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一种引线框架质量检测方法、装置及设备
申请号:CN202411130317
申请日期:2024-08-16
公开号:CN118937338A
公开日期:2024-11-12
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种引线框架质量检测方法、装置及设备,其方法包括以下步骤:步骤一、利用工业相机从多个角度对引线框架进行图像采集,获取引线框架的多个角度的外观图像。本发明通过对引线框架多角度图像采集,结合先进的图像处理算法、自动化检测流程、精确的光学测量技术、先进的光谱分析方法以及机器学习和深度学习模型进行缺陷检测,大大提高了检测速度,减少了人为因素干扰,满足大规模生产需求的同时提高了检测准确性;通过对引线框架的几何形状、尺寸、表面纹理、材质成分和电学性能等多方面检测,并运用机器学习和深度学习模型不断学习和优化检测标准,从而适应不同类型和规格的引线框架检测,具有更强的适应性和智能化水平。
技术关键词
引线框架 表面纹理特征 电感耦合等离子体发射光谱法 深度学习模型 图像处理算法 图像处理模块 工业相机 直方图均衡化算法 图像采集模块 LCR测试仪 尺寸 光谱分析方法 三角测量原理 偏差 测试模块 灰度共生矩阵 边缘检测算法 概率密度函数 决策树算法