一种移位存储器并行测试方法及系统

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一种移位存储器并行测试方法及系统
申请号:CN202411437270
申请日期:2024-10-15
公开号:CN119380797A
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种移位存储器并行测试方法及系统。本发明包括接收来自测试机的第一测试数据,并生成第一输出数据,当第一输出数据与第一测试数据的电位一致时,确定存储功能正常;接收来自测试机的第二测试数据,并生成第二输出数据,当第二输出数据与预设的输出电位一致时,确定移位功能正常;接收来自测试机的第一测试信号,并获移位存储器的输出端口驱动电压,当输出端口驱动电压在预定电压范围内时,确定输出端驱动电压功能正常;接收来自测试机的第二测试信号,并获取移位存储器的输出端口电流,当输出端口电流在预定电流范围内时,确定输出端高阻态电流功能正常。本发明保证了测试结果的准确性和可靠性,并且降低测试成本。
技术关键词
并行测试方法 存储器 数据输入引脚 移位寄存器 电压 电流 模式 端口 测试机 并行测试系统 输出端 时序 信号 时钟 电源模块 芯片 通道