芯片验证测试方法、芯片测试装置、电子设备及存储介质

本申请提供一种芯片验证测试方法、芯片测试装置、电子设备及存储介质，所述方法，根据多个待测芯片和芯片测试装置，构建多个测试支路；也就将多个待测芯片插入到芯片芯片装置上构建多个测试支路，这样，能够对多个测试支路进行同步测试，提高测试效率及测试速度，减少测试时间。在测试过程中首先对所述多个测试支路进行初步测试，确定所述多个待测芯片的目标测试时刻；在所述目标测试时刻，对所述多个测试支路进行故障测试，获得各待测芯片的测试结果；然后根据所述各待测芯片的测试结果，确定故障芯片。这样，通过对各待测芯片的测试结果进行分析，从而可以确定各待测芯片中的故障芯片，提高芯片测试效率。