一种功率MOSFET的诊断及寿命估计的系统及方法

本发明公开了一种功率MOSFET的诊断及寿命估计的系统及方法，所述系统包括：数据采集模块，用于配置退化测试模式，按照所述退化测试模式进行退化测试获取退化数据，利用所述退化数据进行分析，得到潜在的故障前兆；诊断模块，用于根据所述故障前兆检查及诊断功率MOSFET的内部结构的健康状况，使用人工智能算法估计功率MOSFET的剩余寿命。本发明实现简单，能够同时检测多种不同的故障模式，定期轻松便捷地检查退化的设备的内部结构的健康状况。