一种高压平面型可控硅的制作方法
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一种高压平面型可控硅的制作方法
申请号:
CN202411456970
申请日期:
2024-10-18
公开号:
CN119317128B
公开日期:
2025-10-17
类型:
发明专利
摘要
本发明提供了一种高压平面型可控硅的制作方法,其在正面P型基区四周边缘环绕有扩展结,扩展圆的直径大小不一,且随着远离正面P型基区逐渐缩小,可使得掺杂浓度沿正面P型基区向边缘方向连续线性递减,同时掺杂浓度逐渐减少使得结深也在逐步降低,可有效改善主结电场,进而降低终端的尺寸,降低芯片面积;以及在硅片正面形成有复合钝化膜,可对外加电场具有屏蔽作用,避免了表面击穿,提高了反向耐压,且不易开裂,可控硅产品性能更加优越。
技术关键词
硅片
PECVD设备
平面型
复合钝化膜
二氧化硅薄膜
LPCVD设备
多晶硅薄膜
接触区
正面
氮化硅薄膜
可控硅产品
高温扩散炉
高压
可控硅芯片
隔离氧化层
光刻机
单晶硅
四边形