一种芯片检测方法、系统及计算机设备

本申请涉及一种芯片检测方法、系统及计算机设备。为了改善现有的芯片数据处理能力检测方法，使之能够检测芯片在实际应用时遇到的所有数据情景及运行的所有操作，本申请针对芯片相关的每个处理功能信息，通过一系列步骤在数据库中筛选出对应目标数据处理任务的评价指标信息，确保每个评价指标都与目标数据处理任务和处理功能信息高度相关，提高了生成芯片检测报告的精确性。同时，本申请基于若干处理功能信息及其对应的若干目标数据处理任务，通过数据类型、评价指标信息和处理日志信息多个维度对芯片进行综合评价，确保评价芯片数据处理能力时充分考虑片在实际应用时遇到的所有数据情景及运行的所有操作，提高了生成芯片检测报告的全面性。